ScatterBase 散射专利数据库

ScatterBase 散射专利数据库

当外部空间环境如太阳的杂散光信号进入高探测能力的光接收器时，杂散光抑制在其中的作用越来越重要。特别是在强背景下的弱目标探测系统，杂散光抑制不足或失败将导致光学系统探测能力下降甚至丢失目标。因此，在光学系统的设计初始阶段就需要进行杂散光分析。这样可以找出并改进各种由杂散光问题引起的缺陷，在系统加工前就能解决问题。这样既节约经费又节省研制时间。

建立准确的元件的散射模型是进行精确杂散光仿真分析的基础。如果表面散射模型描述不准确，则会导致分析结果准确性和可靠性不高。因此，在建立杂散光仿真分析模型时，需要考虑到各种因素，包括光源、光学件和结构件的结构参数、散射特性模型等。散射特性一般由双向散射分布函数(BSDF)或双向反射分布函数(BRDF)或双向透射分布函数(BTDF)描述，但是由于我们缺少BSDF模型库，对于杂散光的仿真，无法预判实际的加工产生的杂散光数量级。

Scatter Base是一个专门的散射数据库软件，该软件收集了公开的BSDF数据和普遍性的测量数据，该数据以不同的散射模型来表示的，每一个模型具有详细的用途描述。

功能特色：

1.散射数据库含有多种类型的、不同加工工艺散射模型，如 Alanod、ALCOA、Diffuser、Miscellaneous、Mold-tech、Paint、Diffuser Sheet、polished、Mirror、lens 等不同类型的散射数据模型，并包含不同类型的可见光及红外的普及性的数据。

2.拥有GUI界面，可以方便查看和调用散射数据，支持搜索功能。

3.软件支持Harvey-Shack、Extended Harvey-Shack、Diffuse Binomial 和 Polynomial数学公式，并可以查看BSDF曲线（2D和3D）及计算TIS总散射。

4.可以导出BSDF分布曲线图及不同格式的散射数据格式，包含FRED、LightTools、TracePro、ASAP的TXT格式数据。

5.软件支持在Windows 7、Windows 10、Windows 11和Windows Server、Linux操作系统上稳定运行。

6.可广泛用于光学系统的杂散光仿真分析，并可对加工工艺提升提供指导意义。

7.定制化服务：承接红外波段4.6um和10.6um的BSDF散射测量服务，可扩展定制化软件和测量服务。